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IEC 투표문서- 91/997/NP[검토위원: 김현호 책임연구원]
  • 작성일2011/10/10 14:37
  • 조회 1,961
ㆍ문서 번호: 91/997/NP

ㆍ문서 제목:
Future IEC/TS 62326-17; Printed boards-
Device Embedded Substrate-TEG(test element group)

ㆍ주요 내용: 임베디드 장치 TEG(테스트 요소 그룹)
 
ㆍ검토 위원: 김현호 책임연구원 (삼성전기)

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