PCB&반도체패키징 산업정보 대한민국 IT 3대 산업 PCB가 반도체 패키징과 함께 더욱 발전해 나아갑니다

세부제조공정

    PCB 설계 (CAD/CAM)

    CAD 원하는 기능을 가지는 시스템 구축을 위해 회로 도면 그리는 것
    CAM CAD data를 토대로 전체 제조 공장을 무인 자동화로 통제하는 제조 시스템
    CAD Flow CAM Flow

    CCL (Copper Clad Laminate)

    유리섬유에 에폭시 또는 페놀 수지가 함침된 Prepreg의 상하부에 동박을 넣고 Lamination한 것

    * FCCL (Flexible Copper Clad Laminate)
    유연성을 가진 폴리이미드 필름과 아크릴 접착제 상하부에 동박을 넣고 Lamination한 것

    Working Panel 절단 및 기준홀 가공

    CCL원판을 공정 설비에 맞게 적정한 치수로 절단

    전처리 과정

    동박 표면상에 조도(Roughness)를 형성하여 Dry Film과의 접착력을 증대시키기 위한 공정

    조도형성 방법

    기계적 연마
    - Buff 연마 : 나일론 부직포에 실리콘, 알루미늄 미세입자로 형성된 Brush로 조도형성
    - Jet 연마 : 산화 알루미늄 알갱이 노즐 통해 분사하여 조도형성

    화학적 연마
    - Soft Etching: 과산화수소(35%)와 황산(10%)을 2:8비율로
    혼합하여 노즐로 분사하여 조도형성

    D/F Lamination

    조도가형성된기판에에칭시회로를보호하기위한Dry Film(Photo Resist)을 적층하는 공정

    D/F 노광

    CCL 표면에 적층된 Dry Film위에 Artwork Film을 올려놓고 UV(자외선)를 조사하여 회로 이미지를 형성하는 공정

    노광기의 구조
    Lamp에서 발산된 UV(자외선)가 거울을 통하여 집광 렌즈로 모이고 반사경을 통하여 다시 대상물로 조사되는 구조로 되어 있음

    D/F 현상

    노광에서 빛을 받지 않은 부분(미경화된 부분)을 현상액을 이용하여 제거하는 공정

    • 현상액탄산나트륨(Na2CO3의 1%) 또는 탄산칼륨

    에칭(Etching)

    회로를 형성하기 위하여 D/F 현상 후 동박 위에 D/F가 남겨져 있지 않은 부분을 에칭액으로 제거하는 공정

    • 에칭액염화제2동(CuCl2) 또는 염화철(FeCl3) 사용

    D/F 박리

    Etching 시보호막작용을한D/F를Alkali용액을 (NaOH 또는 KOH) 이용하여 제거하는 공정

    • 박리액수산화나트륨(NaOH) 또는 수산화칼륨(KOH) 사용

    AOI(자동 광학 검사)

    회로 형성 후 기판에 빛(光)을 조사시켜 반사되는 밝기 값을 인식하여 회로의 결함을 검출하는 공정

    구분 종류 특징
    반사광에 의한 검사 반사광 방식 회로표면의 반사광을 통해 회로 인식
    형광 검출 방식 회로 이외 부분은 형광이 양성으로 검출
    Substrate Illumination 회로 부분은 빛이 투과되지 않음
    알고리즘에 의한 검사 Design Rule Check 회로 화상과 검사조건 비교
    Reference Rule Check 양품기판을 기준으로 피검사 기판과 상호 비교
    CAD Reference Data CAD Photo Data와 피검사 기판을 상호 비교

    흑화처리(Black Oxidation)

    내층에 형성되어 있는 회로 표면을 산화시킴으로써 Prepreg와접착될 때 밀착력을증대시키는공정

    흑화 처리 과정
    항목 Brown Oxide Black Oxide
    처리방식 동박 위에 CU2O 석출 동박 위에 CuO 석출
    갈색 또는 적갈색 흑색
    벗겨짐 강도 우수 보통
    균일도 보통 우수
    내산성 우수 보통
    산화막두께 얇음(0.2mg/cm이하) 두꺼움(0.2mg/cm이상)

    Lay-up & V-Press

    Lay-up 회로가 형성된 내층 기판을 다층 기판을 만들기 위하여 CCL, Prepreg 및 동박을 쌓아올리는 공정
    V-Press 쌓아 올려진 기판을 진공 프레스를 이용하여 가열/가압으로 접합시키는 공정
    Lay up 방식

    - Mass Lamination : 4층 기판 제조 시
    - Rivet Lamination : 6~8층 기판 제조 시
    - Pin Lamination : 고다층기판제조시

    Drill (X-ray Drill & CNC Drill)

    X-ray Drill 내층에 형성되어 있는 Target을 X-ray로 투시하여 위치 확인 후 Drilling하는 공정
    CNC Drill 다층 PCB에서 내층과 외층 간의 전기적인 접속이 가능하도록 Drill Bit라는 절삭 공구를 사용하여 홀을 형성하는 과정
    - Drill Bit가 고속으로 회전함과 동시에 기판이 장착된 Drill Table이 홀의 위치에 따라 X축, Y축 방향으로 이동하면서 홀을 가공함.

    Deburring/Desmear

    Deburring 드릴 가공 시 Bit에 의해 밀려 올라 온 Drill Bur를 Buff (Brush) 등으로 제거하는 공정
    - 공정 순서 : Buff 연마 – 수세 - 건조
    Desmear 수지가 마찰에 의해 홀 벽에 달라 붙은 스미어를 과망 간산 약품으로 녹여 제거하는 공정
    - 황산(H2SO4), 크롬산, 과망간산 등의 약품 사용

    동도금(Copper Plating)공정

    - 드릴을 통해 형성된 홀(PTH 또는 BVH)을 동도금을 통해 층간을 전기적으로 연결하는 공정
    - 종류 : 무전해(화학적) 도금 및 전해(전기적) 도금
    일반적으로 드릴 시 노출된 홀 내벽과 표면에 무전해 동도금 후 전해동도금을 통하여 회로의 두께를 형성

    무전해 동도금 : 환원제인 포르말린을 Pd 촉매에 의해 화학적으로 환원시켜 구리이온 석출
    전해 동도금 : Pd 촉매에 의한 환원반응으로 (-)극 구리 이온이 전자를 얻어 구리석출

    외층 회로 형성 공정 ※ 내용은 내층 회로 형성 공정과 동일

    S/R(Solder Resist) 인쇄/건조

    S/R 인쇄 전처리가 완료된 기판 표면을 S/R잉크로 코팅하는 공정
    S/R 건조 전S/R 내S l t 성분을 휘발시키고 80℃의 온도로 S/R을 건조시키는 공정

    ※ 방식에 따라 Screen Coating법 Roll Coating법, Curtain Coating법으로 분류

    S/R 역할

    - 기판 표면 회로의 보호(산화방지)
    - 표면 회로간의 전기적 절연 안정성 유지(회로간 Short 발생 금지)
    - 부품실장 외 부분에 Solder 부착 방지

    S/R 노광 및 현상/경화

    노광 S/R로 코팅된 기판 위에 Artwork Film을 올려 놓고 UV(자외선)를 조사
    현상 UV에 노출되지 않은 미경화 부분을 현상액을 이용하여 제거시키는 공정
    경화 S/R을 UV Cure(노광)와 Thermal Cure(열)를 통해 최종적으로 경화

    표면처리

    내마모성/내열성/내식성/전기 전도성 등의 기능 향상을 목적으로 부품이 실장 될 Pad 표면을 도금하는 공정

    종류 특징
    무전해 니켈/ 금도금 표면에 5um 니켈도금 후 0.03um 금도금
    Immersion Tin 표면에 유기 금속 형성 후 주석도금
    Immersion Silver 표면에 유기 금속 형성 후 Ag도금
    OSP 표면에 유기물질 등과 치환시켜 피막 형성

    외형가공(Router/금형)

    최종 표면처리가 완료된 제품을 고객이 요구하는 사양에 맞게 Sheet/Piece형태로 가공하는 공정

    비교항목 Router 가공법 금형 가공법
    적용 제품 다품종 소량생산 소품종 대량생산
    생산성 낮다 높다
    외형 변경시 대용 쉽다 어렵다
    가공 품질 단면이 깨끗하다 단면이 거칠다
    기타 제품별 대용이 가능 별도금형 필요/고가
    기타 가공

    - Bevel : 부품 실장 후 Connector 삽입 위해 모서리 가공
    - V-cut : Router가공이 완료된 제품에 V자 홈 형성

    전기 검사

    회로의 전기적 이상 유무를 검사하는 공정

    종류 특징
    Unversial 방식 격자 위에 Pin접촉 (고밀도가 가능하나 설비가격이 높음)
    Dedicated 방식 Pin Fixture제작하여 대량생산에 적합 (Point 만개이상 불가)
    도전고무 접촉방식 기판과 장비 사이 도전고무 사용 (미세 제품에는 사용 불가)
    Flying Probe 방식 Fixture가 없으며, 미세 제품에 사용 (제작비는 저렴하나 검사시간이 김)
    비접촉 방식 Pin자국이 없고 고밀도 회로 제품에 적합

    외관 검사

    - 완성제품에형성된외관상불량(미도금,상처,이물, 잉크부착, 돌기, 결손, 변색 등)을 검출하는 공정
    - 반사광 검출방식이 사용됨 (형광등, 할로겐, LED 등 다양한 광원 사용)

    출하검사

    최종 검사가 완료된 제품에 대한 제품의 두께, 휨 정도, 홀 사이즈 등의 사양적합 여부를 외관 상으로 검사

    포장 및 배송

    온도와 습도 등의 급변하는 외부 환경으로부터 제품을 보호하기 위하여 포장 후 고객에게 배송

    흑화 처리 과정